亜鉛メッキ,ニッケル,クロム,金属,加工,記号,方法等-JIS用語

 

外観試験/膜厚試験



電気めっき及び関連処理用語において、”h) 試験及び検査”に分類されている用語のうち、『外観試験』、『膜厚試験』のJIS規格における定義その他について。

亜鉛メッキ、ニッケルメッキ、クロムメッキ、クロメート処理等、金属材料のメッキ加工(めっき加工)などに関する主な用語として、電気めっき及び関連処理用語(JIS H 0400)において、”h) 試験及び検査”に分類されている電気メッキ関連処理用語には、以下の、『外観試験』、『膜厚試験』などの用語が定義されています。

電気めっき及び関連処理用語(JIS H 0400)
⇒【 h) 試験及び検査 】


分類: 電気めっき及び関連処理用語 > h) 試験及び検査

番号: 8001

用語: 外観試験

定義:
めっき面の欠陥の有無を目視によって調べる方法。

対応英語(参考):
visual test


分類: 電気めっき及び関連処理用語 > h) 試験及び検査

番号: 8002

用語: 膜厚試験

定義:
めっき皮膜の厚さを調べる方法。
参考:
JIS H 8501
(※1) には、顕微鏡断面厚さ試験方法、渦電流式厚さ試験方法、蛍光X線試験方法などの膜厚試験方法が規定されている。

対応英語(参考):
film thickness test


(※1)
JIS H 8501 は、以下のJIS規格になります。

JIS H 8501
めっきの厚さ試験方法

この規格では、金属素地上に施した電気メッキ及び化学メッキの厚さ試験方法について規定されています。
この規格では、膜厚試験として、顕微鏡断面厚さ試験方法、渦電流式厚さ試験方法、蛍光X線試験方法のほかにも以下の試験方法が規定されています。

a)顕微鏡断面試験方法
b)電解式試験方法
c)渦電流式試験方法
d)磁力式試験方法
e)蛍光X線式試験方法
f)β線式試験方法
g)多重干渉式試験方法
h)走査電子顕微鏡試験方法
i)測微器による試験方法
j)質量計測によるめっき付着量試験方法